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- Helios 5 DualBeamFIB雙束電鏡
新一代的賽默飛世爾科技 Helios 5 DualBeam FIB雙束電鏡經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)，可滿足材料科學(xué)研究人員和工程師對(duì)廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是有挑戰(zhàn)性的樣品。
- 訪問(wèn)量：6382
- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
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- Scios 2 DualBeam超高分辨率分析系統(tǒng)
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為廣泛類型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
- 訪問(wèn)量：3162
- 更新日期：2025-09-10 ￥面議
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- Helios 5 LaserPFIB顯微鏡
PFIB顯微鏡較快的材料去除率和較高的切割面質(zhì)量，是毫米尺度范圍納米分辨率下較快的高質(zhì)量亞表面和三維表征設(shè)備。
- 訪問(wèn)量：5183
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Helios 5 DualBeamFIB雙束掃描電鏡
Helios 5 DualBeam FIB雙束掃描電鏡經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)，可滿足材料科學(xué)研究人員和工程師對(duì)廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具挑戰(zhàn)性的樣品。
- 訪問(wèn)量：5863
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Scios 2 DualBeamFIB顯微鏡
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。
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- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Scios 2 DualBeamFIB雙束掃描電鏡
Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡系統(tǒng)創(chuàng)新性的功能設(shè)計(jì)，優(yōu)化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)和工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行高級(jí)研究和分析的理想解決方案。
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- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
