FIB雙束掃描電鏡

產品介紹

Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡可快速輕松的定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。系統配備Thermo Scientific Auto Slice&View軟件，可以高質量、全自動地采集多種三維信息。無論是在STEM模式下以30kV來獲取結構信息，還是在較低的能量下從樣品表面獲取無荷電信息，系統可在廣泛的工作條件下提供出色的納米級細節。Scios 2 DualBeam可幫助所有經驗水平的用戶更快、更輕松的獲得高質量、可重復的結果，此外，系統專為材料科學中具挑戰的材料微觀表征需求而設計，配備了全集成化、極快速MEMS熱臺，可在更接近真實環境的工作條件下進行樣品表征。

Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡參數：

發射源：高穩定型肖特基場發射電子槍

分辨率：
☆工作距離下1.4nm（1keV）

電子束參數：
☆探針電流范圍：1pA – 400nA
☆加速電壓范圍：200V ~ 30kV
☆著陸電壓范圍：20eV ~ 30keV
☆導航蒙太奇功能，可額外增大視場寬度

離子光學：
大束流Sidewinder離子鏡筒
加速電壓范圍：500v-30kv
離子束流范圍：1.5pA-65nA
15孔光闌
不導電樣品漂移抑制模式
離子源壽命至少1000h
離子束分辨率30kv下3.0nm

樣品室：
☆電子束和離子束重合點在分析工作距離處（SEM7mm）
☆端口：21個
☆內寬：379mm

樣品臺：靈活五軸電動樣品臺
☆XY范圍：110mm
☆Z范圍：65mm
☆旋轉：360° 連續
☆傾斜：-15°到+90°
☆大樣品尺寸，直徑110mm，可沿X、Y軸*旋轉時
☆大樣品高度，與優中心點間隔為85mm
☆大樣品質量 5 kg（包括樣品托）
☆同心旋轉和傾斜

樣品托：
☆標準多功能樣品托，以*方式直接安裝到樣品臺上，可容納18個標準樣品托架（φ12mm）、3個預傾斜樣品托、2個垂直和2個預傾斜側排托架（38°和90°），樣品安裝無需工具

探測器系統：可同步檢測多達4中信號
☆樣品室二次電子探測器ETD
☆鏡筒內背散射電子探測器T1
☆鏡筒內二次電子探測器T2
☆鏡筒內二次電子探測器T3（可升級）
☆ IR-CCD紅外相機（觀察樣品臺高度）
☆ 可用于圖像導航的彩色光學相機Nav-Cam+™
☆ 高性能離子轉換和電子探測器ICE
☆ 可伸縮式低電壓、高襯度、分割式固態背散射探測器DBS
☆ 電子束流測量

控制系統：
☆ 64 操作系統、鍵盤、光學鼠標
☆ 圖像顯示：24寸LCD顯示器，顯示分辨率1920×1200
☆ 支持用戶自定義的GUI，可同時實時顯示4幅圖像
本地語言支持